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一种光储一体机测试老化系统

发布时间:2022/9/6 10:13:17    阅读:

[实用新型] 一种光储一体机测试老化系统

授权公告号:
CN217360087U
授权公告日:
2022.09.02
申请号:
2021226392993
申请日:
2021.10.31
专利权人:
苏州派尔电气有限公司
发明人:
戴庆
地址:
215300江苏省苏州市工业园区金鸡湖大道1355号A203-7单元
分类号:
G01R31/00(2006.01)I 全部
摘要:

本实用新型涉及一种光储一体机测试老化系统,用于对高功率光储一体机或低功率光储一体机进行老化测试,包括级联的高功率双向直流电源和低功率双向DCDC变换器,外部市电接入高功率双向直流电源、用于为高功率双向直流电源供电,高功率双向直流电源的输出端分为两路,一路与高功率光储一体机电连接、另一路送至低功率双向DCDC变换器的输入端,低功率双向DCDC变换器的输出端与低功率光储一体机电连接。对于上述技术方案,申请人还有进一步的优化效率。本申请可同时测试老化两种不同型号(功率值差异值大)的光储一体机,极大方便了现场测试老化工作,提高了工作效率,同时也缩减了测试老化设备的成本投入