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一种半导体光电特性测试盒

发布时间:2022/9/6 10:14:28    阅读:

[实用新型] 一种半导体光电特性测试盒

授权公告号:
CN217360156U
授权公告日:
2022.09.02
申请号:
2021226426364
申请日:
2021.11.01
专利权人:
苏州金凤明电子技术有限公司
发明人:
金玄
地址:
215222江苏省苏州市吴江区松陵镇长安路3099号南楼2201-11室
分类号:
G01R31/26(2014.01)I; 全部
摘要:

本实用新型公开了一种半导体光电特性测试盒,具体涉及半导体激光器领域,包括测试盒座和测试盒盖,测试盒盖铰接在测试盒座的一端,测试盒座内部的一端固定设有第一隔板,第一隔板的一侧固定设有第二隔板,测试盒座远离第一隔板的一端固定设有测试设备;第一隔板的一端对称活动设有旋帽,两个旋帽靠近第一隔板的一侧均固定设有第一转轴,第一隔板的一端对称开设有第一凹槽,两个第一转轴的一端分别活动插设在两个第一凹槽的内部,两个第一转轴的一端均均固定设有第一锥形齿轮组,两个第一锥形齿轮组其中一个锥形齿轮的一端均固定设有螺纹杆。本实用新型中通过在弧形夹板的一侧设有海绵垫,从而达到保护半导体激光器的目的。